Метод масочной компенсации неравномерности излучения в системе прямого экспонирования на основе жидкокристаллической матрицы

Журнал: Труды МАИ
Тэги (англ.):  direct exposure, printed circuit board manufacturing processes, liquid crystal matrix, reliability of manufacturing processes
Авторы:  Коробков / Зайкин
Выпуск № (Вверх):  132
Файл:  Скачать