Сравнительный анализ тестовых систем ПЛИС и их окружения

Журнал: Труды МАИ
Тэги (англ.):  ASIC, FPGA, testing, test system, fault tolerance
Авторы:  Брехов / Ратников
Выпуск № (Вверх):  125
Файл:  Скачать