Назаров Александр Викторович

Должность	профессор	Кафедра 404
Должность	профессор	Кафедра 307
Ученая степень	Доктор технических наук
Ученое звание	Профессор

Публикации
1	Methods for designing electrical equipment for testing VLSI used in aviation digital information systems// Journal of Physics: Conference Series. - 2021 - №1 - Volume 1925
2	Methods of Detecting Latent Defects in Cells of the Super-Operative Memory of Microcircuits Used in the Digital Signal Processing Systems// 2020 Systems of Signals Generating and Processing in the Field of on Board Communications. - 2020
3	МЕТОД КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА СВЕРХБОЛЬШИХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ НА ЭТАПЕ ИХ ПРОИЗВОДСТВА.// Сборник тезисов IX ежегодной конференции Нанотехнологического общества России.. - 2018 - P. 11-13
4	Методика повышения надежности работы тестового оборудования на этапе функционального контроля СБИС.// Гагаринские чтения - 2019.. - 2019 - P. 531-532
5	Язык матриц.// Естественные и технические науки. - 2019 - №10 (136) - P. 260-261
6	Метод оценки интероперабельности прикладного программного обеспечения на основе объектно-ориентированных полихроматических множеств состава и свойств их данных.// Естественные и технические науки. - 2019 - №10 (136) - P. 262-263
7	Methods of automated test solutions design for VLSI testing// Proceedings - 2020 International Conference on Industrial Engineering, Applications and Manufacturing, ICIEAM 2020. - 2020
8	Разработка многоканального флуориметрического детектора.// Гагаринские чтения - 2020.. - 2020 - P. 360-361
9	Беспроводная передача энергии для кардиостимуляторов.// Гагаринские чтения - 2020.. - 2020 - P. 790-791
10	Methods for Ensuring Full Traceability of the Production Testing Results of the Digital VLSI// 2021 Systems of Signals Generating and Processing in the Field of on Board Communications, Conference Proceedings. - 2021
11	Mathematical models and methods for functional control of large-scale integrated circuits at the stage of their production// International Journal of Nanotechnology. - 2019 - №1-3 - Volume 16 - P. 162-173
12	Methods of designing electrical equipment for testing very large scale integrated circuit// International Journal of Nanotechnology. - 2021 - №9-10 - Volume 18 - P. 847-868
13	Methods of automatic testing the very large integrated circuit of memory// International Journal of Nanotechnology. - 2021 - №9-10 - Volume 18 - P. 869-886
14	Проблемы контактирования при проведении испытаний современных СБИС// 19-я Международная конференция «Авиация и космонавтика».. - 2021 - P. 650
15	Методика автоматизированной подготовки готового решения для функционального контроля СБИС// 19-я Международная конференция «Авиация и космонавтика».. - 2021 - P. 690-691
16	Проблемы автоматизации функционального контроля СБИС памяти и методы их решения// 19-я Международная конференция «Авиация и космонавтика».. - 2021 - P. 709-710
17	Automatic localisation method for VLSI topology errors at the stage of functional control// International Journal of Nanotechnology. - 2019 - №6-10 - Volume 16 - P. 466-483
18	Methods to ensure reliable contact of super-large integrated circuit with test equipment// International Journal of Nanotechnology. - 2019 - №6-10 - Volume 16 - P. 447-465
19	Methods for Measuring the Electrophysical Parameters of Semiconductor Wafers of VLSI// 2022 Systems of Signals Generating and Processing in the Field of on Board Communications, SOSG 2022 - Conference Proceedings. - 2022
20	Mathematical models and methods for functional control of large-scale integrated circuits at the stage of their production// International Journal of Nanotechnology. - 2019 - №1-3 - Том 16 - С. 162-173
21	Mathematical models and methods for functional control of large-scale integrated circuits at the stage of their production// International Journal of Nanotechnology. - 2019 - №1-3 - Том 16 - С. 162-173
22	Automatic localisation method for VLSI topology errors at the stage of functional control// International Journal of Nanotechnology. - 2019 - №6-10 - Том 16 - С. 466-483
23	Automatic localisation method for VLSI topology errors at the stage of functional control// International Journal of Nanotechnology. - 2019 - №6-10 - Том 16 - С. 466-483
24	Methods to ensure reliable contact of super-large integrated circuit with test equipment// International Journal of Nanotechnology. - 2019 - №6-10 - Том 16 - С. 447-465
25	Methods to ensure reliable contact of super-large integrated circuit with test equipment// International Journal of Nanotechnology. - 2019 - №6-10 - Том 16 - С. 447-465
26	Methods of Detecting Latent Defects in Cells of the Super-Operative Memory of Microcircuits Used in the Digital Signal Processing Systems// 2020 Systems of Signals Generating and Processing in the Field of on Board Communications. - 2020 - №_ - Том _ - С. 9078550-9078550
27	Methods of Detecting Latent Defects in Cells of the Super-Operative Memory of Microcircuits Used in the Digital Signal Processing Systems// 2020 Systems of Signals Generating and Processing in the Field of on Board Communications. - 2020 - №_ - Том _ - С. 9078550-9078550
28	Methods of automated test solutions design for VLSI testing// Proceedings - 2020 International Conference on Industrial Engineering, Applications and Manufacturing, ICIEAM 2020. - 2020 - №_ - Том _ - С. 9111875-9111875
29	Methods of automated test solutions design for VLSI testing// Proceedings - 2020 International Conference on Industrial Engineering, Applications and Manufacturing, ICIEAM 2020. - 2020 - №_ - Том _ - С. 9111875-9111875
30	Methods for Ensuring Full Traceability of the Production Testing Results of the Digital VLSI// 2021 Systems of Signals Generating and Processing in the Field of on Board Communications, Conference Proceedings . - 2021 - №_ - Том _ - С. 9416011- 9416011
31	Methods for Ensuring Full Traceability of the Production Testing Results of the Digital VLSI// 2021 Systems of Signals Generating and Processing in the Field of on Board Communications, Conference Proceedings . - 2021 - №_ - Том _ - С. 9416011- 9416011
32	Methods of automatic testing the very large integrated circuit of memory// International Journal of Nanotechnology. - 2021 - №9-10 - Том 18 - С. 869-886
33	Methods of automatic testing the very large integrated circuit of memory// International Journal of Nanotechnology. - 2021 - №9-10 - Том 18 - С. 869-886
34	Methods of designing electrical equipment for testing very large scale integrated circuit// International Journal of Nanotechnology. - 2021 - №9-10 - Том 18 - С. 847-868
35	Methods of designing electrical equipment for testing very large scale integrated circuit// International Journal of Nanotechnology. - 2021 - №9-10 - Том 18 - С. 847-868
36	Methods for designing electrical equipment for testing VLSI used in aviation digital information systems// Journal of Physics: Conference Series. - 2021 - №1 - Том 192 - С. 012073-012073
37	Methods for designing electrical equipment for testing VLSI used in aviation digital information systems// Journal of Physics: Conference Series. - 2021 - №1 - Том 192 - С. 012073-012073
38	Сравнительный анализ методов построения развертывающих АЦП время-импульсного типа с системой грубо-точного отсчета // Электромагнитные волны и электронные системы. - 2017 - №7 - С. 67-74
39	Сравнительный анализ методов построения развертывающих АЦП время-импульсного типа с системой грубо-точного отсчета // Электромагнитные волны и электронные системы. - 2017 - №7 - С. 67-74
40	Минимизация оборудования устройства управления цифровым вычислительным устройством// Электронный журнал "Труды МАИ". - 2011 - №49 - С. -
41	Минимизация оборудования устройства управления цифровым вычислительным устройством// Электронный журнал "Труды МАИ". - 2011 - №49 - С. -
42	Компьютерное моделирование перколяционных процессов в однородных струтурах// Электронный журнал "Труды МАИ". - 2011 - №49 - С. -
43	Компьютерное моделирование перколяционных процессов в однородных струтурах// Электронный журнал "Труды МАИ". - 2011 - №49 - С. -
44	Methods for Measuring the Electrophysical Parameters of Semiconductor Wafers of VLSI// 2022 Systems of Signals Generating and Processing in the Field of on Board Communications, SOSG 2022 - Conference Proceedings . - 2022 - №178380 - Том - - С. 1-1
45	Methods for Measuring the Electrophysical Parameters of Semiconductor Wafers of VLSI// 2022 Systems of Signals Generating and Processing in the Field of on Board Communications, SOSG 2022 - Conference Proceedings . - 2022 - №178380 - Том - - С. 1-1
Показать остальные публикации

К выбору группы Выбрать учебную неделю Сообщить об ошибке

Учебная неделя №10

Вернуться к сегодняшнему дню

Вт, 29 октября
Автоматизация конструирования и технологической подготовки производства радиоэлектронных средств ЛК
- 09:00 – 10:30
- М4О-401Б-21
- М4О-402Б-21
- 24Б-424
Автоматизация конструирования и технологической подготовки производства радиоэлектронных средств ПЗ
- 10:45 – 12:15
- М4О-401Б-21
- М4О-402Б-21
- 24Б-424
Сб, 02 ноября
САПР электронных устройств ЛР
- 13:00 – 14:30
- М4О-301Б-22
- 24Б-413
САПР электронных устройств ЛР
- 14:45 – 16:15
- М4О-301Б-22
- 24Б-413

Назаров Александр Викторович

Учебная неделя №10

Если вы заметили неточности в расписании, пожалуйста, сообщите об этом.

Разделы

Мы используем cookies

Ничего не нашлось

Популярные запросы