Лазерный сканер Laser Scanner Focus 3D

Описание
Услуги
Характеристики
Портфолио
Контакты

Лазерный сканер Laser Scanner Focus 3D

Лазерный сканер Laser Scanner Focus 3D — высокоскоростной 3D сканер для детального измерения и 3D документирования, использует лазерную технологию, позволяющую создать детализированное трёхмерное изображение сложных объектов за несколько минут.

Focus 3D предлагает наиболее эффективный способ трехмерного сканирования и быстрого получения геометрических обводов объектов различной степени сложности для:

  • контроля качества,
  • выявления структурных деформаций,
  • анализа геометрии изделий,
  • сканирования производственных линий и помещений.


Вас также могут заинтересовать

Высокоточная система измерений компонентов высокого давления
Высокоточная система измерений компонентов высокого давления

Система предназначена для ввода\вывода аналоговых и цифровых сигналов, согласования сигналов с датчиков и первичных преобразователей, выдачу управляющих сигналов на исполнительные механизмы лабораторных установок.
 
Редуктор баллонный DIN CONTROL N3-10
Редуктор баллонный DIN CONTROL N3-10

Редуктор баллонный для инертных газов предназначен для понижения давления газа, поступающего из баллона, и автоматического поддержания заданного рабочего давления при газопламенной обработке.
 
Система сбора данных и управления процессами NI CompactDAQ 9178
Система сбора данных и управления процессами NI CompactDAQ 9178

Система сбора данных, и управления процессами NI CompactDAQ 9178 предназначена для измерения электрических, механических, виброакустических, электрических величин температур и бесконтактного измерения перемещений
 
Учебно-научный комплекс для образовательного процесса  в области нанотехнологии NanoEducator-6 (комплект из 6 сканирующих зондовых микроскопов)
Учебно-научный комплекс для образовательного процесса в области нанотехнологии NanoEducator-6 (комплект из 6 сканирующих зондовых микроскопов)

Учебно-научный комплекс NanoEducator-6 предназначен для преподавания основ нанотехнологии. Позволяет реализовать различные методы измерений туннельной и «полуконтактной» атомно-силовой микроскопий