Высокоэнергетическая шаровая мельница для наноизмельчения SPEX SamplePrep 8000M-230 Mixer/Mill (США)

Описание
Услуги
Характеристики
Портфолио
Контакты

Высокоэнергетическая шаровая мельница для наноизмельчения SPEX SamplePrep 8000M-230 Mixer/Mill (США)

В задачи оборудования входит:

    1. Особо тонкое измельчение материалов, механическое и механо-химическое легирование, перемешивание порошков и эмульсий.
    2. Обеспечение воспроизводимости и постоянного высокого качества получаемых результатов.


Вас также могут заинтересовать

Планетарная мельница с двумя станциями измельчения Fritsch Pulverizette-5
Планетарная мельница с двумя станциями измельчения Fritsch Pulverizette-5

Планетарная мельница с двумя станциями измельчения Fritsch Pulverizette-5 предназначена для быстрого сухого и мокрого помола
 
Полуавтоматические отрезной и шлифовально-полировальный станки с микропроцессорным управлением, регулируемой скоростью вращения и автоматической дозирующей системой фирмы Struers (Дания)
Полуавтоматические отрезной и шлифовально-полировальный станки с микропроцессорным управлением, регулируемой скоростью вращения и автоматической дозирующей системой фирмы Struers (Дания)

Контроль параметров процесса пробоподготовки: скорости и направления вращения, усилия на образец, количества и типа абразива, времени подготовки и др.
 
Высокоточная система измерений компонентов высокого давления
Высокоточная система измерений компонентов высокого давления

Система предназначена для ввода\вывода аналоговых и цифровых сигналов, согласования сигналов с датчиков и первичных преобразователей, выдачу управляющих сигналов на исполнительные механизмы лабораторных установок.
 
Учебно-научный комплекс для образовательного процесса  в области нанотехнологии NanoEducator-6 (комплект из 6 сканирующих зондовых микроскопов)
Учебно-научный комплекс для образовательного процесса в области нанотехнологии NanoEducator-6 (комплект из 6 сканирующих зондовых микроскопов)

Учебно-научный комплекс NanoEducator-6 предназначен для преподавания основ нанотехнологии. Позволяет реализовать различные методы измерений туннельной и «полуконтактной» атомно-силовой микроскопий