Факультет №3 «Системы управления, информатика и электроэнергетика»

В период с 2015 по 2016 год в соответствии с Соглашением №14.577.21.0161 от 22 сентября 2015 года с Минобрнауки России в рамках федеральной целевой программы «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2014-2015 годы» коллективом кафедры 304 проводятся прикладные научные исследования (ПНИ) по теме «Разработка программно-аппаратных средств контроля сбоеустойчивости проекта специализированной микросхемы» (уникальный идентификатор ПНИ – RFMEFI57715X0161).

Целями ПНИ являются:  

-         разработка методики моделирования проекта микросхемы на базе СБИС и СнК с имитацией сбоев;

-         разработка оптимального варианта решения задачи контроля сбоеустойчивости проекта специализированной микросхемы типа  «система на кристалле» на базовых кристаллах.

-         разработка программно-аппаратных средств контроля сбоеустойчивости проекта микросхемы типа «система на кристалле» на базовых кристаллах серий 5521 и 5529

Партнеры проекта 

Проводимые ПНИ входят в состав комплексного проекта ПНИЭР по теме «Разработка технологии проектирования микросхем «система на кристалле» на основе отечественной САПР СБИС»», реализуемого совместно с ФГБУ «Научно-производственный комплекс «Технологический центр» МИЭТ», а также с ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «МИЭТ».

Индустриальным партнером проекта является ведущая российская компания-разработчик и производитель микроэлектронной компонентной базы, акционерное общество «ПКК Миландр». Основным направлением деятельности компании является разработка интегральных микросхем с проектными нормами от 2 мкм до 0,04 мкм, ориентированных на использование в изделиях с повышенными требованиями к надежности; компания также занимается организацией измерений и испытаний микросхем как отечественного, так и импортного производства, осуществляет комплексную поставку электронных компонентов для комплектации радиоэлектронной аппаратуры гражданского и специального назначения.

Основными ожидаемыми результатами проекта являются:  

-       Методика моделирования проекта микросхемы типа «система на кристалле» на базовых кристаллах с имитацией сбоев;

-       Методика разработки программно-аппаратного комплекса (ПАК);

-       ПАК контроля сбоеустойчивости проекта микросхемы, предназначенный для анализа сбоеустойчивости проектов микросхем, созданных средствами системы автоматизированного проектирования специализированных микросхем типа «система на кристалле» (САПР СнК) на базовых кристаллах серий 5521 и 5529;

-       Проект тестовой микросхемы для проведения испытаний ПАК в виде поведенческой модели на синтезируемом подмножестве языка описания аппаратуры и верификации SystemVerilog (IEEE Std 1800-2009).

-       Экспериментальные образцы тестовых микросхем.

-       Методика комплексных испытаний программного комплекса и аппаратных средств ПАК.

-       Результаты испытаний ПАК контроля сбоеустойчивости проекта микросхемы с использованием проекта тестовой микросхемы.

Текущие результаты 

В рамках этапа №1 «Разработка методики моделирования проекта микросхемы с имитацией сбоев и определение требований к аппаратно-программным средствам моделирования», проведенного в период с сентября по декабрь 2015 года, были получены следующие результаты:

- Проведен анализ отечественных и зарубежных патентов, выявленных в рамках патентных исследований на тему: «Методы моделирования проектов   микросхем с имитацией сбоев»;

- Осуществлена сравнительная оценка методов моделирования проектов микросхем типа «система на кристалле» с имитацией сбоев

- Проведены исследования по определению типов сбоев, возникающих в микросхемах

- Обоснован оптимальный вариант решения задачи контроля сбоеустойчивости проекта специализированной микросхемы типа «система на кристалле» на базовых кристаллах

- Разработана методика моделирования проекта микросхемы типа «система на кристалле» на базовых кристаллов с имитацией сбоев

- Разработаны технические требования к программному комплексу ПАК.

- Разработаны технические требования к аппаратным средствам ПАК

- Разработана структурная схема ПАК

- Разработана функциональная схема ПАК

- Разработана поведенческая модель проекта тестовой микросхемы для испытаний ПАК

- Разработаны программа и методики экспериментальных исследований макетных образцов тестовых микросхем.   

- Изготовлены и исследованы пластины с кристаллами макетных образцов различных типов тестовых микросхем для отладки поведенческой модели тестовой микросхемы  



Назад в раздел "Научно-исследовательская деятельность"

Контакты НИО-304
Начальник научно-исследовательского отдела
Кордовер
Константин Александрович
Тел.: +7 499 158-4617
E-mail: nio304@mai.ru
комн. 450 корпус 3

Группа НИО-304
Тел.: +7 499 158-4899
комн. 434В корпус 3